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半导体材料测试与分析 半导体的检测与分析(第二版)
- ISBN：9787030270368
- 包装：精装
- 字数：481000
- 开本：16开
- 版次：1
- 用纸：胶版纸
- 页数：381
- 丛书名：半导体科学与技术丛书
- 出版社：科学出版社
- 出版时间：2010-04-01
- 作者：
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