[正版图书]集成电路芯片测试

电子与通信 微电子学、集成电路(IC)

• ISBN：9787308129763
• 作者：-
• 印次：5
• 字数：292000
• 开本：16开
• 版次：1
• 页数：182
• 出版社：浙江大学出版社
• 出版时间：2014-03-01
• 印刷时间：2021-07-01
• 中图法分类号：TN407