2本 光刻机像质检测技术（上下册）王向朝 戴凤钊 光刻胶曝光法空间像测量法干涉测量法等检测技术投影物镜离线像质检测技术深紫外干式浸液光刻机及极紫外光刻机像质检测技术参考书籍 科学出版社

电子与通信 微电子学、集成电路(IC)

• ISBN：9787030673541
• 作者：王向朝，戴凤钊
• 包装：精装
• 印次：1
• 字数：1497000
• 开本：16
• 版次：1
• 用纸：胶版纸
• 页数：1010
• 出版社：科学出版社
• 套装数量：2
• 正文语言：中文
• 出版时间：