电子元器件可靠性设计【正版书籍】

电子与通信电子元件、组件

ISBN：9787030196385
作者：王蕴辉,于宗光,孙再吉
包装：平装
版次：1
出版社：科学出版社
出版时间：2007-09-01

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#电子书简介

基本信息

书名：电子元器件可靠性设计

定价：49.90元

作者：王蕴辉,于宗光,孙再吉

出版社：科学出版社

出版日期：2007-09-01

ISBN：9787030196385

字数：643000

页码：514

版次：1

装帧：平装

开本：其他

商品重量：0.699kg

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内容提要

为使我国电子元器件可靠性技术的研究和应用迈向一个新台阶，促进元器件固有可靠性水平的提高，我们组织重点元器件研制生产单位长期从事元器件设计的专家，在总结多年可靠性工作经验的基础上，密切结合我国元器件的实际情况，编写此书，呈现给读者。
本书共分9章，内容涉及电子元器件可靠性设计的一般要求；单片集成电路可靠性设计；混合集成电路可靠性设计与控制；半导体分立器件可靠性设计；连接器可靠性设计；继电器可靠性设计；电容器可靠性设计；微特电机可靠性设计；声表面波器件可靠性设计等。本书内容全面，翔实，涵盖电子元器件可靠性设计和控制所必需的基本技术与方法。另外，对各类元器件均给出了应用实例。
本书既可作为电子元器件研制、生产单位的培训教材，也可作为高等院校研究生、本科生的参考教材，同时也可供广大工程技术人员参考。

作者介绍

文摘

序言

本文地址： https://www.315wen.com/info_9351_19901.html